Fundamentos de Metrologia Científica e Industrial é uma obra abrangente que serve como material de apoio para o ensino da metrologia, atendendo às necessidades de cursos de graduação e pós-graduação nas áreas de engenharia, ciências exatas e afins. Além disso, o livro é adequado para cursos de educação continuada e para autodidatas interessados no tema.

A primeira edição, publicada em 2008, resultou do amadurecimento das notas de aula dos autores ao longo de quase 20 anos de atividades docentes. A segunda edição, lançada em 2017, foi revisada, atualizada e ampliada, incorporando novos conteúdos e abordagens para refletir os avanços mais recentes na área da metrologia.

A obra apresenta uma abordagem sequencial e intuitiva, facilitando a compreensão dos conceitos fundamentais da metrologia e sua aplicação prática. Os autores enfatizam a importância da metrologia para aumentar a confiabilidade dos trabalhos experimentais, abordando tópicos como incertezas de medição, calibração, controle dimensional, entre outros.

Além do conteúdo teórico, a segunda edição inclui um capítulo sobre o uso de simulações numéricas para estimar incertezas de medição e um anexo com conceitos de estatística apresentados de forma acessível. Esses recursos adicionais visam proporcionar uma compreensão mais profunda e prática da metrologia.